Park Systems GmbH
Über uns
Accurion wurde 1991 unter dem Namen „Nanofilm Technologie GmbH“ als Spin-off des Max Planck Instituts für biophysikalische Chemie in Göttingen gegründet. Das Unternehmen startete mit einem neuartigen Mikroskop zur Untersuchung ultradünner Schichten, dem Brewsterwinkel - Mikroskop.
1992 wurde die Produktpalette durch aktive Schwingungsisolationssysteme ergänzt, da die Mikroskope aufgrund der hohen Auflösung äußerst schwingungsempfindlich waren.
Accurion bietet seit jeher Lösungen für anspruchsvolle Messtechnikaufgaben in den Bereichen Oberflächenanalytik und aktiver Schwingungsisolation.
Ein Team von 32 Mitarbeitern entwickelt, produziert und vertreibt die Produkte. Mit Tochterunternehmen in den USA, Indien und China und über 20 Händlern wird den Kunden eine weltweite Vertriebs- und Servicestruktur geboten.
Ende 2022 hat das koreanische Unternehmen Park Systems Corp. (KOSDAQ: 140860) die Accurion GmbH übernommen.
Produkte und Dienstleistungen
Optische Oberflächenanalytik
Die Kombination von Null-Ellipsometrie und Mikroskopie liefert in Echtzeit ein ellipsometrisches Kontrastbild mit einer Ortsauflösung von bis zu einem Mikrometer, während nicht abbildende Ellipsometer maximal eine Ortsauflösung von bis zu 50 Mikrometern haben. Die Schichtdickenauflösung liegt im Sub-Nanometerbereich. Kombinationen mit Rasterkraftmikroskopen (AFM), Raman Spektrometern, QCMD Systemen und anderen Komplementärtechnologien sind möglich.
Der Bereich Nanofilm (Oberflächenanalytik) beliefert vielfältigste Anwendungen im Bereich Materialforschung, Nanotechnologie und Biotechnologie , wie z.B. Monolayer, Membranforschung, Kolloid & Interface Forschung, Polymerforschung, Proteininteraktionen, Biochips, organische Solarzellen, Graphen, 2D Materialien etc.
Aktive Schwinungsisolation
Der Bereich Halcyonics (Aktive Schwingungsisolation) stellt Produkte her, die schwingungsempfindliche Messgeräte auch unter schwierigen Randbedingungen in den geforderten Arbeitsbereich bringen. Wir sind spezialisiert auf die Isolation von störenden Schwingungen im Bereich von 1 - 200 Hz und bieten auch diverse kundenspezifische Lösungen an.
Eingesetzt werden die Systeme u.a. zur Dämpfung von Rastersondenmikroskopen, Elektronenmikroskopen, Profilometern, konfokalen Lasermikroskopen, Härteprüfgeräten und Nanoindentern.