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Göttinger Messtechniksymposium 2017

Die Referenten

Dr. Rainer Bartelt:

Dr. rer. nat. Rainer Bartelt, Studium der Mathematik, Physik und Pädagogik an der Georg-August-Universität und Pädagogischen Hochschule in Göttingen. Seit 1984 Schulungsleiter bei der Mahr GmbH in Göttingen, verantwortlich für das Seminarangebot der Mahr Akademie. Von 1998 bis 2001 Vorstandsmitglied des Measurement Valley e. V.

 

Dr. Joachim Deppe

Dr. rer. nat. Joachim Deppe studierte Physikalische Chemie an der Georg-August-Universität in Göttingen.
Nach der Diplomhauptprüfung 1996, erfolgte im Jahr 2000 die Promotion als Physikochemiker im Bereich der Reaktionskinetik unter verbrennungsrelevanten Bedingungen.
Im Anschluss an seinen wissenschaftlichen Werdegang begann Herr Deppe im Jahr 2001 eine industrielle Laufbahn bei der Firma LaVision mit Hauptsitz in Göttingen.
Sein heutiger Funktionsbereich umfasst die Gruppenleitung für den Vertrieb Deutschland mit Schnittstellenfunktion zur Forschung und Entwicklung.

 

Dr. Silviu Grecu

Silviu Grecu studierte Physik an der Universität von Bukarest und promovierte an der Universität Augsburg im Bereich Organische Elektronik. Nach seinem Doktorat vor etwa 10 Jahren begann er seine Karriere bei FRAMOS in der Position des Entwicklungsingenieurs mit Schwerpunkt Software- und Hardwareentwicklung für Machine Vision Anwendungen. In den letzten vier Jahren fungierte er als Field Application Engineer, der sich hauptsächlich auf die Bildsensoren konzentrierte. Darüber hinaus ist er verantwortlich für das EMVA1288-Labor von FRAMOS und führt regelmäßig EMVA1288-Messungen für interne und externe Kunden durch.

 

Dr. Michael Hernla

Dr. Michael Hernla ist ausgebildeter Maschinenbauer und hat an der TU Dresden Werkzeugmaschinenbau mit der Spezialisierung auf Fertigungsmesstechnik studiert. Nach mehreren Tätigkeiten in der Industrie folgte 1992 die Promotion an der TU Dresden über die Messunsicherheit von Koordinatenmessungen. Seit 1994 ist er als freiberuflicher Ingenieur mit den Schwerpunkten technische Zeichnungen und Messunsicherheit tätig und leitet entsprechende Seminare. 

 

Prof. Dr. Bernd Jähne

Bernd Jähne studierte Physik in Saarbrücken und Heidelberg, promovierte am Institut für Umweltphysik der Universität Heidelberg 1980 und habilitierte dort 1985 in Physik und 1992 zusätzlich in angewandter Informatik an der TU Hamburg-Harburg. Von 1988 bis 2003 hatte er eine Forschungsprofessur am Scripps Institut für Ozeanographie der Universität von Kalifornien in San Diego und seit 1994 ist er Professor am Interdisziplinären Zentrum für Wissenschaftliches Rechnen (IWR) der Universität Heidelberg. Seit 2008 koordiniert er das Heidelberg  Collaboratory for Image Processing (HCI) am IWR, ein „Industry on Campus“ Projekt der Universität Heidelberg. Seit 2015 ist er einer der Direktoren der European Machine Vision Association (EMVA). Weitere Aktivitäten sind das Heidelberger Bildverarbeitungsforum (www.bv-forum.de seit 1995), das European Machine Vision Forum (www.emva-forum.org seit 2016) und der Vorsitz des EMVA 1288 Standardisierungskomitees zur objektiven Kameracharakterisierung (www.standard1288.org seit 2008). 

Seine Forschungsinteressen umfassen kleinskalige Austauschvorgänge zwischen Atmosphäre und Meer, neuartige Bildaquisitionssysteme insbesondere mit Lichtfeldern, Bildverarbeitung und deren Anwendungen in Wissenschaft und Industrie. 

 

Dr. Fabio Di Lorenzo

Fabio Di Lorenzo hat ein Bachelor- und Masterstudium der Mechatronik / Sensortechnik an der Hochschule für Technik und Wirtschaft des Saarlandes absolviert. Von 2010 bis 2015 promovierte er am Max-Planck-Institut für Dynamik und Selbstorganisation im Labor für Hydrodynamik, Strukturbildung und Biokomplexität. Im Laufe seiner Promotion im Bereich der Fluidturbulenz hat er ein System zur Echtzeitkompression von Daten aus Phantom Highspeed Kameras entwickelt. Seit 2015 ist Fabio Di Lorenzo als Anwendungsingenieur für Vision Research, dem Hersteller der Phantom Highspeed Kameras, tätig und für die Region Europa, Mittlerer Osten, Afrika, Russland und Indien zuständig.

 

Prof. Dr. Ulrich Lunze

Von 1970 bis 1977 Mathematikstudium an der TU Dresden und Promotion auf dem Gebiet der Theorie stochastischer Prozesse. Anschließend wissenschaftlicher Mitarbeiter am Lehrstuhl Fertigungsmesstechnik der TU Dresden (Prof. Lotze) und Habilitation. Von 1993 bis 2017 Professor für Qualitätsmanagement und Geometrische Messtechnik an der Westsächsischen Hochschule in Zwickau. Lehrtätigkeit auf dem Gebiet Qualitätsmanagement, statistische Methoden der Qualitätssicherung, Tolerierung und Messung von Form-, Lage und Oberflächenabweichungen, Forschungstätigkeit auf dem Gebiet der mathematischen Grundlagen zur Auswertung von Koordinatenmessungen.

Mitarbeit bei AUKOM Ausbildung Koordinatenmesstechnik e.V. und im DIN Normenausschuss Geometrische Produktspezifikation und –prüfung.

 

Prof. Dr. Gunther Notni

Gunther Notni (geboren in Potsdam) studierte von 1983 bis 1988 Physik an der Friedrich Schiller Universität Jena, wo er auch 1992 zur Thematik der Anwendung photorefraktiver Medien in der optischen Messtechnik promovierte. Seit 1992 ist er am Fraunhofer Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF in Jena tätig. Hier übernahm er 1994 die Leitung der Abteilung Optische Systeme mit derzeit 30 Mitarbeitern und 28 Studenten. Die Schwerpunkte seine Arbeit sind die Entwicklung von kohärenten und inkohärenten optischen 3D-Messverfahren insbesondere Musterprojektionsverfahren, hochauflösender Oberflächen- und Formmessverfahren, die Entwicklung von bildgebenden THz-Systemen und Anwendung Computertomografischer Verfahren. 
Im Oktober 2014 wurde er parallel auf die Stiftungsprofessur „Industrielle Bildverarbeitung“ an der Technischen Universität Ilmenau berufen und leitet dort das Fachgebiet Qualitätssicherung und Industrielle Bildverarbeitung. 

 

Prof. Dr. Jörg Seewig

Jörg Seewig (Dipl. Ing. Elektrotechnik, Universität Hannover) war von 1995-1999 wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Mess- und Regelungstechnik, Universität Hannover, promovierte 2000 zum Dr.-Ing. Titel: Praxisgerechte Signalverarbeitung zur Trennung der Gestaltabweichungen an technischen Oberflächen. Seit 2000 Ingenieurbüro zur Entwicklung von Software und Signalverarbeitung für die Produktionsmesstechnik: Entwicklungsprojekte: robustes Gaußfilter, dominante Welligkeit, zweite Generation Drallmesstechnik, etc. 2003-2008 Leiter des Bereiches Fertigungsmess- und –prüftechnik, Institut für Mess- und Regelungstechnik Universität Hannover. 2008 Ruf auf die Professur Messtechnik und Sensorik, Technische Universität Kaiserslautern. 2013 Ruf auf die Professur Fertigungsmesstechnik, Technische Universität Chemnitz, abgelehnt. Herr Seewig ist Delegierter im ISO TC 213, WG 15 Filtration, WG 16 Surface Texture und Obmann im DIN Bereich Oberflächenmesstechnik sowie Obmann VDI 3.40 Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik.

 

Dr. Rainer Vetter

Dr. Rainer Vetter studierte Biologie mit Schwerpunkt Entwicklungsbiologie an der Georg-August-Universität in Göttingen. Seit 2000 ist er bei der Kappa optronics GmbH als Key Account Manager tätig und betreut Kunden aus den Marktsegmenten Industrie, Biotechnologie und Medizin.

 

Andreas Tischmeyer:

25 Jahre Berufserfahrung in den Bereichen Vertrieb und Logistik. Leitenden Positionen in den Bereichen Marketing und Vertrieb z.B. bei den Firmen Continental AG und OKI.

Seit 7 Jahren selbstständig als Management Trainer für Führungskräfte mit den Schwerpunkten Vertrieb und Logistik.





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Max-Planck-Institut für Sonnensystemforschung

Justus-von-Liebig-Weg 3

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